Abstract:
هدف: شناسایی چگونگی تشخیص چرخه حیات فناوری در حوزه آندوسکوپی با استفاده از دادههای پروانههای ثبت اختراع و مدل مخفی مارکوف.
روش/رویکرد پژوهش: این پژوهش از نظر هدف کاربردی و از نظر نوع اکتشافی است. جامعه این پژوهش را همه پروانههای ثبت اختراع در حوزه آندوسکوپی که از سال 1976 تا 2015 در پایگاه پروانههای ثبت اختراع آمریکا منتشر شدهاند، تشکیل میدهد که با استفاده از نرمافزارهای Uspto1 و Ravar Premap استخراج شدند. تعداد این پروانههای ثبت اختراع 4915 عنوان بود که با استفاده از مدل آماری پنهان مارکوف بررسی گردید.
یافته ها: یافتههای پژوهش حاضر نشان داد فناوری آندوسکوپی در مرحله اشباع چرخه حیات فناوری خود قرار دارد و میزان نوآوریهای این حوزه نسبت به دیگر حوزهها بهدلیل اشباعشدن بازار کمتر است.
نتیجه گیری: انتقال فناوری از یک مرحله به مرحله دیگر چرخه حیات فناوری بر اساس تغییر قابل توجه میانگینهای شاخصهای پروانههای ثبت اختراع قابل تشخیص است و با استفاده از مدل مخفی مارکوف، بررسی احتمال اینکه فناوری در یک مرحله خاص از چرخه حیات فناوری خود است نیز امکانپذیر است. ضمنا ادغام شاخصهای پروانههای ثبت اختراع در مدل مخفی مارکوف دیدگاه جامع و متوازنی از چرخه حیات فناوری را فراهم و تصمیمگیری بنگاهها را با توجه به مراحل چرخه حیات فناوری تسهیل میکند.
Machine summary:
روش دلفی<FootNote No="64" Text=" Delphi"/> (رو و رایت<FootNote No="65" Text=" Rowe &amp;amp; Wright"/>، 1999)، روش سناریوسازی<FootNote No="66" Text=" Scenario"/> (دایم، روئدا، مارتین و گردسری<FootNote No="67" Text=" Daim, Rueda, Martin &amp;amp; Gerdsri"/>، 2006)، روش پیمایش محیطی<FootNote No="68" Text=" Environmental scanning"/> (فاهی، کینگ و نورایانن<FootNote No="69" Text=" Fahey, King &amp;amp; Narayanan"/>، 1981)، روش ذهنانگیزی<FootNote No="70" Text=" Brainstorming"/> (پوپر<FootNote No="71" Text=" Popper"/>، 2008)، روش تحلیل پروانههای ثبت اختراع<FootNote No="72" Text=" patent"/> (دایم و دیگران، 2006)، روش درخت وابستگی<FootNote No="73" Text=" Relevance tree"/> (گوردن و گلن<FootNote No="74" Text=" Gordon, J.
این پژوهشها با بررسی روند رشد تعداد پروانههای ثبت اختراع (طباطبائیان و نوده، 1383)، متنکاوی (زارع احمدآبادی و یوسفتبار میری،1392)، خوشهبندی (ترپی، وو و تگابونی-دوتا<FootNote No="116" Text=" Trappey, Wu, Taghaboni-Dutta"/>،2011)، منحنیهای رشد منطقی (مایلینز، دو فاریا، دو آمارال، لیوا و گریگولین<FootNote No="117" Text=" Milanez, de Faria, do Amaral, Leiva &amp;amp; Gregolin"/>، 2014) و بررسی ردههای پروانههای ثبت اختراع (دوبریک، جیانوکارو، بنگسون و اکمن<FootNote No="118" Text=" Dubarić, Giannoccaro, Bengtsson &amp;amp; Ackermann"/>،2011) انجام شدهاند.
پژوهش «ترپی و دیگران» (2011) با استفاده از پروانههای ثبت اختراع در دفتر مالکیت فکری جمهوری خلق چین (SIPO)<FootNote No="119" Text=" State intellectual property office of the people’s republic of china"/> در حوزه فناوری RFID نشان داد از آنجاکه این فناوری وارد مرحله بلوغ شده است، فعالیتهای تحقیق و توسعه باید با هدف بهبود سطح فرکانس و امواج RFID بهعنوان ابزاری برای توسعه سیستمهای RFID قابل اطمینانتر و برنامههای کاربردی انجام شود.